特許
J-GLOBAL ID：201403035433010896
平判紙の折れ込み検査方法および平判紙折れ込み検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (5件)：
森 哲也
, 小西 恵
, 田中 秀▲てつ▼
, 廣瀬 一
, 宮坂 徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-179694
公開番号（公開出願番号）：特開2014-038012
出願日： 2012年08月14日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
要約：
【課題】多数枚の平判紙からなる積層物に平判紙の折れ込みが存在するか否かを正確に検査することのできる平判紙の折れ込み検査方法を提供する。【解決手段】積層物の両側に配置された照明装置から積層物の平判紙積層面に照明光を積層物の横方向から斜めに照射すると共に、積層物の両側に配置された撮像装置により平判紙積層面を撮像し、撮像装置で得られた画像の端から順に検査を行う画素を設定する。そして、設定した画素の周囲の平均輝度を算出するための平均輝度算出エリアを検査を行う画素の上側と下側に設定すると共に、検査を行う画素の左右両側に暗部検出エリアを設定し、検査を行う画素の輝度と平均輝度算出エリアの平均輝度との輝度差を第1の基準値と比較すると共に、平均輝度算出エリアの平均輝度と暗部検出エリアの最低輝度との輝度差を第2の基準値と比較して折れ込みの有無を検査する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
一定寸法に裁断された平判紙を積層してなる積層物に平判紙の折れ込みが存在するか否かを検査する方法であって、前記積層物の両側に配置された複数の照明装置から前記積層物の平判紙積層面に照明光を前記積層物の横方向から斜めに照射すると共に、前記積層物の両側に配置された複数の撮像装置により前記積層物の平判紙積層面を撮像し、前記撮像装置により撮像された平判紙積層面の画像の端から順に検査を行う画素を設定し、設定した画素の周囲の平均輝度を算出するための平均輝度算出エリアを前記検査を行う画素の上側と下側に設定すると共に、前記平判紙の折れ込みにより発生する暗部を検出するための暗部検出エリアを前記検査を行う画素の左右両側に設定して前記折れ込みの有無を検査することを特徴とする平判紙の折れ込み検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/892 A
, G06T1/00 300
2G051AA34
, 2G051AB03
, 2G051AC15
, 2G051BA01
, 2G051BB01
, 2G051CA04
, 2G051CA06
, 2G051CA07
, 2G051DA06
, 2G051EA08
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC03
, 2G051ED01
, 2G051ED07
, 2G051FA00
, 5B057AA01
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CC03
, 5B057DA03
, 5B057DA08
, 5B057DC22
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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