特許
J-GLOBAL ID:201403056513920653
電磁波検出方法及び電磁波検出装置
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
高島 敏郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-155368
公開番号(公開出願番号):特開2014-016303
出願日: 2012年07月11日
公開日(公表日): 2014年01月30日
要約:
【課題】 構成が簡素で高感度にTHz光等の電磁波の検出ができる電磁波の検出方法及び検出装置を提供する。【解決手段】 電気光学効果を用いたEOサンプリング法により電磁波を検出する電磁波検出方法において、サンプリング光照射手段から照射されたサンプリング光を非線形光学結晶に入射させ、電磁波照射手段から照射された検出対象の電磁波を集束させて増強し、増強した電磁波を前記非線形光学結晶に前記サンプリング光の光軸に対してチェレンコフ位相整合角で入射させ、位相整合された前記電磁波と前記サンプリング光とを結合させて出力される和周波成分又は差周波成分をヘテロダイン検波法又はホモダイン検波法で検出するようにした。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
電気光学効果を用いたEOサンプリング法により電磁波を検出する電磁波検出方法において、
サンプリング光照射手段から照射されたサンプリング光を非線形光学結晶に入射させ、
電磁波照射手段から照射された検出対象の電磁波を集束させて増強し、
増強した電磁波を前記非線形光学結晶に前記サンプリング光の光軸に対してチェレンコフ位相整合角で入射させ、
位相整合された前記電磁波と前記サンプリング光とを結合させて出力される和周波成分又は差周波成分をヘテロダイン検波法又はホモダイン検波法で検出すること、
を特徴とする電磁波検出方法。
IPC (3件):
G01J 1/02
, G02F 1/377
, G01N 21/35
FI (3件):
G01J1/02 C
, G02F1/377
, G01N21/35 Z
Fターム (22件):
2G059AA03
, 2G059EE01
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059KK10
, 2G065AA12
, 2G065AB02
, 2G065AB03
, 2G065AB16
, 2G065BA09
, 2G065BA40
, 2K002AA04
, 2K002AB12
, 2K002AB19
, 2K002BA01
, 2K002CA03
, 2K002DA05
, 2K002EA30
, 2K002GA10
, 2K002HA19
引用特許:
引用文献: