特許
J-GLOBAL ID：201403062575659102

サンプルプレートおよび質量分析装置

発明者：
佐藤 貴弥

佐藤 貴弥 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


代理人 (2件)： 布施 行夫 ,  大渕 美千栄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-162647
公開番号（公開出願番号）：特開2014-021048
出願日： 2012年07月23日
公開日（公表日）： 2014年02月03日
要約：
【課題】多様な保持板に対応可能なサンプルプレートを提供する。【解決手段】本発明に係るサンプルプレート1は、試料Sにエネルギービームを照射してイオン化する質量分析装置用のサンプルプレートであって、ベース10と、試料を保持可能な保持板20と、エネルギービームが通過する貫通孔32を有する固定板30と、を含み、保持板20は、ベース10と固定板30とに挟まれて固定される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料にエネルギービームを照射してイオン化する質量分析装置用のサンプルプレートであって、 ベースと、 前記試料を保持可能な保持板と、 前記エネルギービームが通過する貫通孔を有する固定板と、 を含み、 前記保持板は、前記ベースと前記固定板とに挟まれて固定される、サンプルプレート。
IPC (4件)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/64
FI (5件)：
G01N27/62 F ,  H01J49/04 ,  H01J49/10 ,  G01N27/62 V ,  G01N27/64 B
Fターム (16件)：
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041DA16 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA30 ,  2G041JA07 ,  5C038EE02 ,  5C038EF21 ,  5C038GG07 ,  5C038GH06 ,  5C038GH09
引用特許：
審査官引用 (3件)

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