特許
J-GLOBAL ID：201403063171014511

部品検査装置

発明者：
森田 玲香

森田 玲香 について

, 
安部 好晃

安部 好晃 について

, 
山田 友美

山田 友美 について


出願人/特許権者：
JUKI株式会社

JUKI株式会社 について


代理人 (2件)： 荒船 博司 ,  荒船 良男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-135459
公開番号（公開出願番号）：特開2014-001939
出願日： 2012年06月15日
公開日（公表日）： 2014年01月09日
要約：
【課題】 一台の部品検査装置によって複数の電子部品のコプラナリティ検査を一度に可能とすることで、電子部品実装装置自体の大型化を抑制しつつ、コプラナリティ検査にかかる時間の短縮化を図る。【解決手段】 部品検査装置は、電子部品に光を照射する照射部と、照射部により照射された電子部品を撮像する撮像部と、複数の電子部品が撮像部の撮像範囲内に配置されるように、複数の電子部品を保持する保持部と、保持部に保持された電子部品と撮像部との間隔を調整する間隔調整部と、間隔調整部により間隔を所定のピッチで異ならせながら、撮像部の撮像範囲内にある複数の電子部品を間欠的に撮像させることで、所定数の画像データを取得し、所定数の画像データを基に複数の電子部品を個別に認識して、それぞれの平坦度を検査する検査部とを備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電子部品に光を照射する照射部と、 前記照射部により照射された前記電子部品を撮像する撮像部と、 複数の前記電子部品が前記撮像部の撮像範囲内に配置されるように、前記複数の前記電子部品を保持する保持部と、 前記保持部に保持された前記電子部品と前記撮像部との間隔を調整する間隔調整部と、 前記間隔調整部により前記間隔を所定のピッチで異ならせながら、前記撮像部の撮像範囲内にある前記複数の前記電子部品を間欠的に撮像させることで、所定数の画像データを取得し、前記所定数の画像データを基に前記複数の前記電子部品を個別に認識して、それぞれの平坦度を検査する検査部とを備えることを特徴とする部品検査装置。
IPC (3件)：
G01B 11/30 ,  H05K 13/08 ,  G06T 1/00
FI (4件)：
G01B11/30 101 ,  H05K13/08 A ,  G06T1/00 400C ,  G06T1/00 300
Fターム (39件)：
2F065AA03 ,  2F065AA09 ,  2F065AA12 ,  2F065AA17 ,  2F065AA20 ,  2F065AA47 ,  2F065BB18 ,  2F065CC25 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065GG14 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN20 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065SS04 ,  2F065TT02 ,  2F065TT03 ,  2F065TT08 ,  5B047AA11 ,  5B047BA02 ,  5B047BB04 ,  5B047BC05 ,  5B047BC11 ,  5B047BC12 ,  5B047CA11 ,  5B047CB21 ,  5B057AA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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