特許
J-GLOBAL ID：201403068827061688
スペクトル分析のためのずれ補正
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉村 憲司
, 岡野 大和
, 石井 裕充
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-526256
公開番号（公開出願番号）：特表2014-526050
出願日： 2012年08月17日
公開日（公表日）： 2014年10月02日
要約：
マスクロマトグラム中の信号強度のピークを、それらのピークが分析試料を表す成分(例えば化学物質及び/又はイオン種)と関連するように分離し同定してその成分を同定する技術を開示する。この技術はマスクロマトグラムの信号強度のピークの誤差の補正を容易にする。
請求項（抜粋）：
有形メモリに格納された質量分析データであって、質量分析計により分析された試料に関する信号強度及びイオン化時間を記述するとともに、少なくとも2つのマスクロマトグラム中の前記試料に関する信号強度対イオン化時間の表現を容易にするように構成されている質量分析データにアクセスするステップ、
前記質量分析データを処理して前記マスクロマトグラムの各々の分析に有意な領域を同定するステップ、
前記マスクロマトグラムの前記同定した有意な領域内の信号強度のピークを同定するステップ、
前記信号強度のピークを前記マスクロマトグラムの質量電荷比に対して補正するステップ、
前記少なくとも2つのマスクロマトグラムの1つを連続的に整列させて少なくとも1つの信号強度の整列ピークを同定するステップ、及び
前記少なくとも1つの信号強度の整列ピークから前記試料の1以上の成分を同定するステップ、
を備える方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N27/62 D
, G01N27/62 V
2G041CA01
, 2G041CA02
, 2G041EA04
, 2G041EA06
, 2G041HA01
, 2G041LA06
, 2G041MA04
, 2G041MA05
