特許
J-GLOBAL ID：201403077511840170
応力分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田代 克
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-127697
公開番号（公開出願番号）：特開2013-253788
出願日： 2012年06月05日
公開日（公表日）： 2013年12月19日
要約：
【課題】応力分布測定の際の位相シフト光弾性法において相対縞次数から絶対縞次数を決定するためには、既知となる絶対縞次数から位相が連続的になるようにつなぎ合わせる必要があった。また、従来の方法では、高次の縞まで対応可能とするために、光源やフィルタを複数台使用するため、高価な装置となってしまう問題があった。【解決手段】偏光器内の物体から撮像素子7にて受光して得られるカラー位相シフト画像から相対縞次数を算出するもので、あらかじめ絶対縞次数校正曲線を算出しておき、これを参照することによって物体の多波長の相対縞次数から絶対縞次数を決定する場合に、光源1を三波長のLED光源とし、撮像素子前に一枚のRGB干渉フィルタ6を取付け、絶対縞次数算出の際に適用縞次数上限を決定するマスク演算を行う応力分布測定装置とした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源を持つ円偏光器(半円偏光器含む)もしくは平面偏光器内の物体像を撮像素子にて撮影して得られるカラー位相シフト画像から相対縞次数を算出するものであって、あらかじめ既知の物体による多波長の相対縞次数から絶対縞次数校正曲線を算出しておき、これを参照することによって物体の多波長の相対縞次数から絶対縞次数を決定することにより応力分布を測定する応力分布測定装置であって、光源を三波長のLED光源とし、撮像素子前に一枚のRGB干渉フィルタを取付け、絶対縞次数算出の際に適用縞次数上限を決定するマスク演算を行うことを特徴とする応力分布測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
引用文献：
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