特許
J-GLOBAL ID：201403080415659864
光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阿部 琢磨
, 黒岩 創吾
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-134967
公開番号（公開出願番号）：特開2013-190444
特許番号：特許第5587469号
出願日： 2013年06月27日
公開日（公表日）： 2013年09月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像装置であって、
測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合成した合成光と前記参照光とのいずれかを検出する検出手段と、
前記検出手段により前記合成光を検出する状態と前記参照光を検出する状態とのいずれか一方に切り替える切替手段と、
前記参照光を検出する状態において前記被検査物に照射するための測定光の光量と閾値とを比較する比較手段と、
前記比較手段による比較の結果として前記被検査物に照射するための測定光の光量が前記閾値以下である場合に、前記検出手段により前記参照光を検出する状態から前記合成光を検出する状態に切り替えるように、前記切替手段を制御する制御手段と、
前記合成光を検出する状態において前記検出手段により前記合成光を検出した後に、前記合成光の強度に基づく前記被検査物の断層画像の情報から、前記参照光の強度に基づく情報が低減された断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (2件)：
G01N 21/17 ( 200 6.01)
, A61B 3/10 ( 200 6.01)
G01N 21/17 625
, A61B 3/10 R
