特許
J-GLOBAL ID：201403099703108280
開回路遅延装置、システム、および分析物測定のための方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
正林 真之
, 林 一好
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-077428
公開番号（公開出願番号）：特開2013-164424
特許番号：特許第5525081号
出願日： 2013年04月03日
公開日（公表日）： 2013年08月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】テストストリップの第1電極に接続するように構成された第1ライン、および前記テストストリップの第2電極に接続するように構成された第2ラインを有するテストストリップコネクタと、
出力電圧を供給する参照電圧回路と、
前記出力電圧とほぼ等しい試験電圧を前記第1ラインに供給するために、前記参照電圧回路に接続され、前記第1ラインに対して接続状態または切断状態のいずれかに設定される出力端子を有するオペレーショナルアンプと、
前記オペレーショナルアンプの前記出力端子および前記第1ラインに接続され、前記出力端子と前記第1ラインとの間が切断状態中も前記第1ラインに接続されているプロセッサと、を備える回路を有し、前記回路は、前記参照電圧回路に接続された第1入力端子と、前記第1電極および前記回路の前記出力端子に接続されたフィードバックに接続された第2入力端子と、を有し、前記回路の前記出力端子が前記プロセッサに接続されている電気化学的セルの電気化学反応を測定するための方法であって、
前記第1電極に試験電圧を印加し、前記第2電極をアースに接続するステップと、
前記第1電極を前記回路の前記出力端子から切断する一方、前記第1電極から前記プロセッサへの電気的接続を許可するステップと、
補償されない電圧降下を誘起せずに、前記電気化学的セルで発生した試験電流を測定するために、前記第1電極を前記出力端子に接続するステップと、を有する方法。
IPC (1件)：
FI (3件)：
G01N 27/46 338
, G01N 27/46 336 Z
, G01N 27/46 336 B
