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J-GLOBAL ID：201502203658577873   整理番号：15A0767129

動作中に軟X線ナノ分光法によって同定された有機電界効果トランジスタにおける化学ポテンシャルのシフト

Chemical potential shift in organic field-effect transistors identified by soft X-ray operando nano-spectroscopy

著者 (8件)： NAGAMURA Naoka (Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  KITADA Yuta (Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  TSURUMI Junto (Dep. of Advanced Materials Sci., Graduate School of Frontier Sciences, The Univ. of Tokyo, 5-1-5 Kashiwanoha ...) ,  MATSUI Hiroyuki (Dep. of Advanced Materials Sci., Graduate School of Frontier Sciences, The Univ. of Tokyo, 5-1-5 Kashiwanoha ...) ,  HORIBA Koji (Photon Factory, Inst. of Materials Structure Sci., High Energy Accelerator Res. Organization, 1-1 Oho, Tsukuba ...) ,  HONMA Itaru (Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  TAKEYA Jun (Dep. of Advanced Materials Sci., Graduate School of Frontier Sciences, The Univ. of Tokyo, 5-1-5 Kashiwanoha ...) ,  OSHIMA Masaharu (Synchrotron Radiation Res. Organization, The Univ. of Tokyo, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo 679-5198, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 106  号： 25  ページ： 251604-251604-4  発行年： 2015年06月22日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： X線分光法 ,  *有機半導体 ,  *FET【トランジスタ】 ,  化学ポテンシャル ,  電子分光法 ,  単結晶 ,  二酸化ケイ素 ,  誘電体薄膜 ,  内殻準位 ,  ドーピング ,  P型半導体 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： C₁₀-DNBDT-NW ,  バックゲート ,  光電子顕微鏡観察 ,  走査光電子顕微鏡 ,  電子分光分析法 ,  有機FET

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

物質索引 (1件)： 14,18-ジデシル-2,3:8,9-ビス[1,3]ブタジエノベンゾ[1,2-b:4,5-b′]ビス[1]ベンゾチオフェン

タイトルに関連する用語 (6件)： 軟X線 ,  分光法 ,  同定 ,  有機電界効果トランジスタ ,  化学ポテンシャル ,  シフト