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J-GLOBAL ID:201502204966695590   整理番号:15A0938933

RFスパッタリングによって蒸着されたナノ結晶TiO2薄膜の低温成長研究

Low temperature growth study of nano-crystalline TiO2 thin films deposited by RF sputtering
著者 (6件):
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巻: 48  号: 29  ページ: 295201,1-13  発行年: 2015年07月29日 
JST資料番号: B0092B  ISSN: 0022-3727  CODEN: JPAPBE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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この研究では,薄膜が種々の基板温度でAr及びAr-O2放電でのRFスパッタリングを使用するセラミックTiO2ターゲットにより蒸着された。プラズマ特性がガス組成の広い範囲で発光分光法によって研究された。一方,膜の構造および化学的性質がX線回折とX線光電子分光法を使用して調べられた。アナターゼとルチル相が室温(RT)と300°Cでそれぞれ成功裏に成長させられた。論文は,まず,TiO2膜の構造特性に及ぼす成長温度とガス混合物中の酸素濃度の効果を研究した。次に,化学量論及び酸素空格子点のような膜の化学特性が記述される。最後に,TiO2膜の低温結晶化のプラズマ化学とプラズマ種の役割が検討される。筆者らの結果は,酸素負のイオン,酸素空格子点,そして基板での表面エネルギー状態は低温で製作された膜の相を制御する重要なパラメータであうことを示す。
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
酸化物薄膜  ,  スパッタリング 

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