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J-GLOBAL ID：201502206874261200   整理番号：15A0958849

位相コントラスト走査透過電子顕微鏡法

Phase-contrast scanning transmission electron microscopy

著者 (5件)： MINODA Hiroki (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  TAMAI Takayuki (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  IIJIMA Hirofumi (JEOL Ltd, Tokyo, JPN) ,  HOSOKAWA Fumio (JEOL Ltd, Tokyo, JPN) ,  KONDO Yukihito (JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
資料名： Microscopy  (Microscopy)
巻： 64  号： 3  ページ： 181-187  発行年： 2015年06月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 2050-5698  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿では,生体試料の観察において電子波と試料間の弱い相互作用がもたらす画像のコントラストが小さい点を改良するために,小さな中心孔をもつ炭素膜位相板(PP)をコンデンサ開口面に置き,中心孔を透過する電子をのぞいて入射電子波中に位相シフトを導入する位相コントラスト走査透過電子顕微鏡法(P-STEM)を記述した。PPにより位相シフトされた散乱波が中心孔を透過した非位相シフトの非散乱波と試料に入射する前に干渉したとき,余弦型位相コントラスト伝達関数が出現した。その結果,P-STEM中の位相コントラストが光学的に同定され,試料のSTEM画像の位相コントラストが増強された。PPの使用によりPPによりもたらされる位相シフトはπ位相シフトの厚みに対応し,これをケイ素単結晶試料の干渉縞を用いて確認した。この干渉縞はPP孔のエッジでπだけ急激にシフトした。

シソーラス用語： *透過型走査電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  *コントラスト ,  *位相シフト ,  位相 ,  生体試料 ,  電子波 ,  位相板 ,  入射波 ,  電子散乱 ,  伝達関数 ,  相反定理 ,  *電子顕微鏡
準シソーラス用語： 位相コントラスト ,  *位相コントラスト電子顕微鏡 ,  *画像コントラスト

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (13件)：

• Danev R, Okawara H, Usuda N, Kametani K, Nagayama K (2002) A novel phase-contrast transmission electron microscopy producing high-contrast topographic images of weak objects. J. Biol. Phys. 28: 627-635.
• Huang S-H, Wang W-J, Chang C-S, Hwu Y-K, Tseng F-G, Kai J-J, Chen F-R (2007) The fabrication and application of Zernike electrostatic phase plate. J. Electron Microsc. 55: 273-280.
• Majorovits E, Barton B, Schultheiß K, Pérez-Willard F, Gerthsen D, Schröder R R (2007) Optimizing phase contrast in transmission electron microscopy with an electrostatic (Boersch) phase plate. Ultramicroscopy 107: 213-226.
• Cuambie R, Downing K H, Typke D, Glaeser R M, Jin J (2007) Design of a microfabricated, two-electrode phase-contrast element suitable for electron microscopy. Ultramicroscopy 107: 329-339.
• Matsumoto T, Tonomura A (1996) The phase constancy of electron waves traveling through Boersch's electrostatic phase plate. Ultramicroscopy 63: 5-10.

タイトルに関連する用語 (2件)： 位相コントラスト ,  走査透過電子顕微鏡