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J-GLOBAL ID：201502208905484370   整理番号：15A0784565

SiO2膜による強化屈折率差のニオブ酸リチウムMach-Zehnder干渉計

Lithium-Niobate Mach-Zehnder Interferometer With Enhanced Index Contrast by SiO2 Film
著者 (4件)：
CHEN Kai Xin

CHEN Kai Xin について

(Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN)

Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN について

, 
LI Xue Peng

LI Xue Peng について

(Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN)

Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN について

, 
ZHENG Yan Lin

ZHENG Yan Lin について

(Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN)

Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN について

, 
CHIANG Kin Seng

CHIANG Kin Seng について

(City Univ. Hong Kong, HKG)

City Univ. Hong Kong, HKG について


資料名：
IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)

IEEE Photonics Technology Letters について


巻： 27  号： 9-12  ページ： 1224-1227  発行年： 2015年05月01日 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*Mach-Zehnder干渉計

Mach-Zehnder干渉計 について

, 
*ニオブ酸リチウム

ニオブ酸リチウム について

, 
膜

膜 について

, 
*光学フィルタ

光学フィルタ について

, 
電気光学効果

電気光学効果 について

, 
光導波路

光導波路 について

, 
屈折率

屈折率 について


準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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シリカ膜

シリカ膜 について

, 
*波長可変フィルタ

波長可変フィルタ について


分類 (1件)：
分類
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干渉測定と干渉計 
(BD07070G)

干渉測定と干渉計 について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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SiO2

SiO2 について

, 
強化

強化 について

, 
屈折率

屈折率 について

, 
ニオブ酸リチウム

ニオブ酸リチウム について

, 
Mach-Zehnder干渉計

Mach-Zehnder干渉計 について


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