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J-GLOBAL ID：201502209347740221   整理番号：15A0856618

共鳴軟X線散乱による強磁性金属La_0.6Sr_0.4MnO₃薄膜の深さ方向電子状態解析

著者 (10件)： 芝田悟朗 (東大 理) ,  和達大樹 (東大 物性研) ,  田久保耕 (東大 物性研) ,  高橋文雄 (東大 理) ,  SUTARTO Ronny (Canadian Light Source) ,  HE Feizhou (Canadian Light Source) ,  吉松公平 (KEK-PF) ,  組頭広志 (KEK-PF) ,  小出常晴 (KEK-PF) ,  藤森淳 (東大 理)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 70  号： 1  ページ： ROMBUNNO.22ABD-4  発行年： 2015年03月24日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *マンガン化合物 ,  *酸素酸塩 ,  *ランタン化合物 ,  *ストロンチウム化合物 ,  *薄膜 ,  X線散乱 ,  共鳴散乱 ,  軟X線 ,  電子状態 ,  深さ分布 ,  膜構造 ,  計算機シミュレーション ,  強磁性体 ,  磁性薄膜 ,  *亜マンガン酸塩 ,  共鳴X線散乱 ,  計算機利用 ,  利用

分類 (1件)： 酸化物結晶の磁性  (BM06050E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 共鳴軟X線散乱 ,  強磁性金属 ,  薄膜 ,  深さ方向 ,  電子状態 ,  解析