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J-GLOBAL ID：201502210798068150   整理番号：15A0598252

走査型プローブ顕微鏡による有機分子の界面挙動評価

著者 (1件)： 上村忍 (香川大 工)
資料名： 日本接着学会誌  (Journal of the Adhesion Society of Japan)
巻： 51  号： 5  ページ： 157-163  発行年： 2015年05月01日 
JST資料番号： G0749A  ISSN： 0916-4812  CODEN： NSEGE7  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ナノ材料,ナノ構造,ナノデバイスの普及発展に伴って表面及び界面における分子の構造と挙動に関する情報の必要性,重要性が増している。子の様な観点から走査型トンネル顕微鏡(STM)及び原子間力顕微鏡(AFM)を用いた有機分子の界面挙動解析について解説した。STMの原理は導電性基板と探針の間に流れるトンネル電流で表面形状を検出するものであり,導電性試料に適している。非導電性の有機分子の場合は探針-基板間隔をトンネル電流が流れる1nm程度に設定する必要がある。このためには蒸着法による単分子層の形成が必要である。単分子層形成は分子と基板の相互作用(吸着力)にも支配される。このために吸着力に低いヨウ素修飾基板が用いられる。吸着力制御法として溶媒の種類の選択による熱力学的制御及び電気化学的制御も行われる。更に周波数変調(AFM)による界面挙動観察も行われる。これらの技法に共通した利点は有機分子挙動の可視化にある。

シソーラス用語： ナノ材料 ,  ナノ構造 ,  *固体素子 ,  *有機化合物 ,  界面化学 ,  *表面構造 ,  *顕微鏡観察 ,  *計測 ,  形状測定 ,  導体材料 ,  試料調製 ,  *蒸着膜 ,  *基板 ,  *表面改質 ,  ヨウ素 ,  溶媒 ,  処理 ,  *周波数変調 ,  表面準位 ,  可視化 ,  *ナノデバイス ,  *界面構造 ,  電気化学的処理 ,  *原子間力顕微鏡法 ,  *走査型トンネル顕微鏡法 ,  *単分子膜 ,  表面計測 ,  *構造
準シソーラス用語： *トンネル電流計測 ,  界面状態 ,  *原子間力顕微鏡観察 ,  *走査型トンネル顕微鏡観察 ,  *単分子層膜 ,  導電材料 ,  表面形状測定 ,  *有機分子

分類 (3件)： 高分子の立体構造  (CG02031G) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  その他の非晶質の構造  (BK04040Z)

引用文献 (28件)：

• M. Kunitake, R. Higuchi, R. Tanoue, S. Uemura, Curr. Opin. Colloid Interface Sci., 19, 140 (2014).
• S. Uemura, R. Tanoue, N. Yilmaz, A. Ohira, M. Kunitake, Materials, 3, 4252 (2010).
• S. Uemura, M. Sakata, C. Hirayama, M. Kunitake, Langmuir, 20, 9198 (2004).
• S. Uemura, I. Taniguchi, M. Sakata, M. Kunitake, J. Electroanal. Chem., 623, 1 (2008).
• S. Yoshimoto, R. Narita, E. Tsutsumi, M. Matsumoto, K. Itaya, O. Ito, K. Fujiwara, Y. Murata, K. Komatsu, Langmuir, 18, 8518 (2002).

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型プローブ顕微鏡 ,  有機分子 ,  界面 ,  挙動 ,  評価