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J-GLOBAL ID：201502210845792989   整理番号：15A0919904

検出器飽和の存在下でのイメージングSIMSデータの統計的に厳密な分析

Statistically rigorous analysis of imaging SIMS data in the presence of detector saturation

著者 (3件)： GELB Lev D. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA) ,  BAKHTIARI Layla A. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA) ,  WALKER Amy V. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 47  号： 9  ページ： 889-895  発行年： 2015年09月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 検出器飽和による影響を受けた,イメージング飛行時間SIMSデータセットを分析するための新たな方法を提示する。飽和を除去するために測定データを修正しようとするよりむしろ,検出器挙動を分析の統計的基礎に組み込む。最大事後再構成の枠組みの中でこれを行う。提案した手法は,従来の技法を上回る複数の利点を有する。検出器の仮定モデル以外の近似を含まない。高度に飽和および/または単一のスキャンデータセットに適用した場合でさえ,本方法は良好に機能する。それは統計的に厳しく,データの基本的な統計的分布を正確に処理する。それはまた,サンプルの特性についての事前の知識を組み込むための,Bayes法に適合する。SIMSデータの分析において一般的に使用される双線形モデルの場合に関して,提案された方程式を解くための効率的な反復スキームを提示する。本手法の正確さとその有効性を,合成データセットについて実証する。本方法は,交互最小二乗多変量カーブ分解解析と組み合わせて使用される,広く利用されるデータの補正方法よりも良好に機能することを見出す。Copyright 2015 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *データ解析 ,  読取装置 ,  多変量解析 ,  主成分分析 ,  統計解析
準シソーラス用語： MCR【読取装置】

分類 (2件)： 質量分析  (CC03013N) ,  統計的品質管理  (KB04030W)

タイトルに関連する用語 (6件)： 検出器 ,  飽和 ,  イメージング ,  SIMS ,  統計 ,  分析