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J-GLOBAL ID:201502212735925030   整理番号:15A0908444

原子層堆積によって成長させたZnO薄膜特性へのドープ処理とアニールの効果

Effects of doping and annealing on properties of ZnO films grown by atomic layer deposition
著者 (8件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 10:75 (WEB ONLY)  発行年: 2015年12月 
JST資料番号: U7001A  ISSN: 1931-7573  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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150°Cの原子層堆積によって非ドープおよびAl ドープZnO薄膜を合成し,そして,異なる雰囲気で350°Cでアニールした。薄膜の成長モードと特性へのドープ処理とアニールの効果を研究した。非ドープ薄膜は,強いUV放出と弱いZn間隙放出をした。アニーリングは,O空孔を導入し,Zn割込みを減少させ,そして,UV放出を弱め青色遷移となる。これはアニール雰囲気に敏感である。Alドーピングは,基板表面と平行したc軸で薄膜成長を誘導する。それは非放射性センターを導入し,UV放出を弱める。Alドーピングは薄膜バンドギャップを広げる。そして,それにはAl含量に対し二次依存がある。アル・ドーピングは,5.3×-10-3Ω-1cmまで薄膜抵抗を減少させる。アニーリングは,ドープ薄膜の光ルミネセンスに,ほとんど影響を及ぼさない,しかし,それは非ドープとドープZnO薄膜伝導率を劇的に低下させ,そして,劣化はアニーリング雰囲気に依存する。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 
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