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J-GLOBAL ID：201502215042224584   整理番号：15A1372511

陽電子マイクロプローブ

Positron microprobe

著者 (3件)： 大島永康 (産業技術総合研 計測フロンティア研究部門) ,  鈴木良一 (産業技術総合研 計測フロンティア研究部門) ,  藤浪真紀 (千葉大 大学院工学研究科)
資料名： 陽電子科学  (日本陽電子科学会会報)
号： 1  ページ： 27-39  発行年： 2013年09月01日 
JST資料番号： F1636A  ISSN： 2188-0107  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 陽電子消滅法は多くの材料に適用され,その有用性が実証されているが,計測法の空間分解能の制限により一辺1mm以下の試料への適用は困難である。空間分解能を大幅に向上させるために,陽電子ビームを数μm~数十μmへ集束するマイクロプローブ(MP)装置の開発が行われている。しかし,実際に測定に利用されたMPは世界で数台しかない。本稿では,陽電子寿命測定法やDoppler広がり測定法のために開発されたPMについて,その要素技術と応用研究例を紹介した。まず,陽電子消滅法の空間分解能について述べた。次に,陽電子MBの形成方法を示した。PMによる陽電子寿命の測定,ビーム径の測定について述べ,PMを分類した。最後に,PMの応用例を紹介した。

シソーラス用語： *陽電子ビーム ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  *陽電子消滅 ,  拡幅 ,  寿命 ,  空間分解能 ,  スペクトロスコピー ,  マイクロプローブ
準シソーラス用語： Doppler広がり ,  *陽電子プローブマイクロアナライザ ,  *陽電子マイクロビーム ,  陽電子寿命 ,  *陽電子消滅分光法

分類 (1件)： 陽電子消滅  (BK16052L)

引用文献 (32件)：

• 陽電子計測の科学, 日本アイソトープ協会, 丸善株式会社 (1993).
• R. Krause-Rehberg, H. S. Leipner: Positron Annihilation in Semiconductors (Springer, Berlin, 1999).
• Positron Beams and Their Applications, edited by P. Coleman (World Scientific, Singapore, 2000).
• A. David, G. Kögel, P. Sperr, W. Triftshäuser: Phys. Rev. Lett. 87 (2001) 067402.
• N. Oshima, R. Suzuki, T. Ohdaira, A. Kinomura, T. Narumi, A. Uedono, M. Fujinami: Appl. Phys. Lett. 94 (2009) 194104.

タイトルに関連する用語 (2件)： 陽電子 ,  マイクロプローブ