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J-GLOBAL ID：201502216252278977   整理番号：15A1057768

ミリメートル波長の金属スリットプローブを用いた近接場走査電子顕微鏡のコントラスト解析

Contrast analysis of near-field scanning microscopy using a metal slit probe at millimeter wavelengths

著者 (4件)： NOZOKIDO Tatsuo (Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  ISHINO Manabu (Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  SETO Ryosuke (Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  BAE Jongsuck (Dep. of Engineering Physics, Electronics, and Mechanics, Nagoya Inst. of Technol., Gokiso, Showa-ku, Nagoya 466-8555 ...)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 118  号： 11  ページ： 114905-114905-8  発行年： 2015年09月21日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： EHF波 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  走査光学顕微鏡 ,  導波路 ,  層状組織 ,  誘電体 ,  有限要素法 ,  特性インピーダンス ,  光学スリット ,  *プローブ ,  *コントラスト ,  電磁場 ,  反射率
準シソーラス用語： アドミタンス ,  *近接場光走査型顕微鏡 ,  ミリメートル波

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (7件)： 波長 ,  スリット ,  プローブ ,  近接場 ,  走査電子顕微鏡 ,  コントラスト ,  解析