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J-GLOBAL ID:201502218476130498   整理番号:15A0922309

高温ゲートリセス技術により製作した高RF性能エンハンスメントモードAl2O3/AlGaN/GaN MIS-HEMTs

High RF Performance Enhancement-Mode Al2O3/AlGaN/GaN MIS-HEMTs Fabricated With High-Temperature Gate-Recess Technique
著者 (16件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 754-756  発行年: 2015年08月 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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エンハンスメントモードAl2O3/AlGaN/GaN MIS-HEMTsは,パワースイッチング用だけでなくRF,マイクロ波回路やディジタル制御回路用として非常に好まれている。ゲートリセス法はRFアプリケーション用や低ゲート漏れ電流のための高い相互コンダクタンスの利点がある。本研究では,高温ゲートリセス技術を使ってこのデバイスを製作した。ドライエッチング中,基板温度を180°Cとして塩素系エッチング残さの脱着を強化した。Al2O3ゲート誘電膜はO3を酸素源として原子層蒸着により成長させた。4GHzで高い出力と電力付加効率の優れたRF性能を示した。出力電力密度5.76W/mmの高い性能を示した。
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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