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J-GLOBAL ID：201502219870624370   整理番号：15A1234582

EM漏洩から暗号装置への故障注入時間の推定方法

Method for Estimating Fault Injection Time on Cryptographic Devices from EM Leakage

著者 (6件)： NAKAMURA Ko (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  HAYASHI Yu-ichi (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  HOMMA Naofumi (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  MIZUKI Takaaki (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  AOKI Takafumi (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  SONE Hideaki (Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
資料名： IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility  (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻： 2015 Vol.1  ページ： 235-240  発行年： 2015年 
JST資料番号： E0041A  ISSN： 2158-110X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *漏れ ,  *暗号装置 ,  *注入 ,  *時間 ,  故障解析 ,  方式 ,  正弦波 ,  電磁干渉 ,  攻撃行動 ,  サイバー攻撃
準シソーラス用語： サイドチャネル攻撃 ,  *故障注入 ,  推定法 ,  *注入時間 ,  *電磁波漏洩

分類 (2件)： 符号理論  (ND02030R) ,  雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： EM ,  漏洩 ,  暗号装置 ,  故障注入 ,  推定