ARROYO ROJAS DASILVA Y. について
Electron Microscopy Center, EMPA, Swiss Federal Laboratories for Materials Sci. and Technol., Duebendorf, CHE について
ROSSELL M. D. について
Electron Microscopy Center, EMPA, Swiss Federal Laboratories for Materials Sci. and Technol., Duebendorf, CHE について
KELLER D. について
Electron Microscopy Center, EMPA, Swiss Federal Laboratories for Materials Sci. and Technol., Duebendorf, CHE について
GROENING P. について
Advanced Materials and Surfaces, EMPA, Swiss Federal Laboratories for Materials Sci. and Technol., Duebendorf, CHE について
Solid State Physics Lab., ETH, Zurich, CHE について
KREILIGER T. について
Solid State Physics Lab., ETH, Zurich, CHE について
VON KAENEL H. について
Solid State Physics Lab., ETH, Zurich, CHE について
ISELLA G. について
L-NESS and Dep. of Physics, Politecnico di Milano, Como, ITA について
ERNI R. について
Electron Microscopy Center, EMPA, Swiss Federal Laboratories for Materials Sci. and Technol., Duebendorf, CHE について
Applied Physics Letters について
ゲルマニウム について
結晶 について
貫通転位 について
ケイ素 について
基板 について
電子顕微鏡観察 について
対合 について
歪分布 について
薄膜成長 について
シリコン について
透過型電子顕微鏡観察 について
エッジ貫通転位 について
転位対 について
半導体薄膜 について
半導体の格子欠陥 について
Si基板 について
成長 について
Ge について
結晶 について
エッジ について
貫通転位 について
分析 について