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J-GLOBAL ID：201502220376669989   整理番号：15A0210588

レーザーコンプトン散乱を用いた高強度レーザーの直接プロファイル計測

著者 (6件)： 吉田靖史 (Waseda Univ. (RISE)) ,  佐藤令 (Waseda Univ. (RISE)) ,  野々村洸 (Waseda Univ. (RISE)) ,  坂上和之 (Waseda Univ. (RISE)) ,  遠藤彰 (Waseda Univ. (RISE)) ,  鷲尾方一 (Waseda Univ. (RISE))
資料名： 日本加速器学会年会(Web)  (日本加速器学会年会プロシーディングス(Web))
巻： 10th  ページ： SAP109 (WEB ONLY)  発行年： 2013年 
JST資料番号： U0092A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *Compton散乱 ,  ソレノイド形コイル ,  光電陰極 ,  極端紫外線 ,  フォトリソグラフィー ,  記録材料 ,  写真フィルム ,  *ビームサイズ ,  *ビームプロファイル ,  ラジオクロミックフィルム ,  エミッタンス【ビーム】
準シソーラス用語： エミッタンス ,  *レーザCompton散乱 ,  電荷量 ,  RF電子銃 ,  EUVリソグラフィー

分類 (1件)： 加速器一般及び理論  (BE02010M)

タイトルに関連する用語 (5件)： レーザーコンプトン散乱 ,  高強度 ,  レーザー ,  プロファイル ,  計測