SEGURA-RUIZ J. について
Inst. Laue-Langevin, F-38042 Grenoble, FRA について
GUTFREUND P. について
Inst. Laue-Langevin, F-38042 Grenoble, FRA について
IMBERT G. について
STMicroelectronics, 850 rue Jean Monnet, 38926 Crolles, FRA について
PONARD A. について
STMicroelectronics, 850 rue Jean Monnet, 38926 Crolles, FRA について
CUBITT R. について
Inst. Laue-Langevin, F-38042 Grenoble, FRA について
Journal of Applied Physics について
炭素材 について
二酸化ケイ素 について
剥離 について
水素 について
蓄積 について
濃度 について
計測 について
透過型電子顕微鏡 について
界面 について
X線反射率法 について
アモルファスカーボン について
界面剥離 について
水素濃度 について
中性子反射法 について
炭素とその化合物 について
固-固界面 について
アモルファスカーボン について
SiO2 について
界面 について
原因 について
水素 について
蓄積 について