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J-GLOBAL ID：201502236362782077   整理番号：15A0695289

ガスクロマトグラフFPD法を用いたLEDの硫化現象と硫黄系アウトガスの解析

著者 (1件)： 鈴木康之 (沖エンジニアリング)
資料名： OKIテクニカルレビュー  (Oki Technical Review)
巻： 82  号： 1  ページ： 76-79  発行年： 2015年05月20日 
JST資料番号： F0243A  ISSN： 1346-5961  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 長寿命の照明機器として利用が進むLEDの電極の変色による不具合事例の多くが銀電極における硫化銀生成によることから梱包材,部品等から発生する硫黄系アウトガスを分析する方法を開発し事例を示した。硫黄系アウトガスによる銀の反応事例や銀の腐食事例を示し,腐食部分の解析と硫黄元素を高感度に検出する炎光光度検出器(FPD)を搭載したガスクロマトグラフによる硫化原因物質の特定法を示した。段ボールから発生する硫黄系アウトガス分析事例を示し銀製品腐食の一因になると述べた。直管型LED照明4種を分解し搭載部材から発生する硫黄系アウトガスを分析し結果を示した。筺体内で銀電極を腐食させる可能性があると述べた。今後他のアウトガス全般の分析を行うと述べた。

シソーラス用語： *ガスクロマトグラフ ,  *発光ダイオード ,  *炎光光度検出器 ,  *硫化 ,  *電極 ,  *変色 ,  硫黄 ,  汚染物質 ,  気体 ,  *ガス放出 ,  *高感度 ,  腐食 ,  蛍光X線分析 ,  二硫化炭素 ,  標準物質 ,  クロマトグラム ,  *LED照明 ,  *発生気体分析
準シソーラス用語： アウトガス ,  銀電極

分類 (3件)： ガスクロマトグラフィー  (CC04013U) ,  その他の電気・電子部品  (NA05090R) ,  光源,照明器具  (NB12020F)

引用文献 (1件)：

• 高貫智久:低分子シロキサンによる接点障害の解析・評価サービス,OKIテクニカルレビュー218号,Vol.78,No1,pp64-67

タイトルに関連する用語 (8件)： ガスクロマトグラフ ,  FPD ,  LED ,  硫化 ,  現象 ,  硫黄 ,  アウトガス ,  解析