文献
J-GLOBAL ID:201502241652356601   整理番号:15A0285359

グラフェン系物質のデバイス応用にむけた展望と問題

Theoretical Aspects of Graphene Related Materials for Device Applications
著者 (4件):
資料名:
巻: 57  号: 12  ページ: 439-443 (J-STAGE)  発行年: 2014年 
JST資料番号: G0194A  ISSN: 1882-2398  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
異種物質によるグラフェンの電子物性変調に関する研究結果を紹介した。1)異種物質してグラフェンの担持基板に使われているSiO2,2)デバイスの動作時に本質となる外部電場,3)トポロジカルな欠陥に注目し,これらから引き起こされる電子物性変形を密度汎関数理論に基づく電子状態計算を行って調べた。1)ではα石英の酸素曝露表面上に吸着したグラフェンの構造,吸着エネルギー,グラフェン-α石英表面間距離を計算した。シラノール化表面上のグラフェンの電子構造を調べた。2)垂直電場と平行電場がグラフェンの電子構造に及ぼす影響を調べた。3)ではグラフェンのトポロジカル欠陥が最も稠密に導入されたsp2炭素による2次元ネットワークでどのような電子構造が出現するか調べた。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体結晶の電子構造  ,  不純物・欠陥の電子構造  ,  吸着の電子論 
引用文献 (22件):
  • 1) H. W. Kroto, J. R. Heath, S. C. O'Brien, R. F. Curl and R. E. Smalley: Nature, 318 (1985) 162.
  • 2) S. Iijima: Nature, 354 (1991) 56.
  • 3) D. Vanderbilt and J. Tersoff: Phys. Rev. Lett., 68 (1992) 511.
  • 4) S. Saito and A. Oshiyama: Phys. Rev. Lett., 66 (1991) 2637.
  • 5) N. Hamada, S.-I. Sawada and A. Oshiyama: Phys. Rev. Lett., 68 (1992) 1579.
もっと見る
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る