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J-GLOBAL ID：201502243608001572   整理番号：15A0287161

ヌテラのストレス-誘電性関連

Stress-dielectric relationships in Nutella

著者 (8件)： PENG Yiyan (Wisconsin Inst. for Discovery, Univ. of Wisconsin-Madison, Madison, WI 53705, USA) ,  ELLINGHAM Thomas (Wisconsin Inst. for Discovery, Univ. of Wisconsin-Madison, Madison, WI 53705, USA) ,  JIN Ni (Dep. of Food Sci., Univ. of Wisconsin-Madison, Madison, WI 53705, USA) ,  YUAN Hongyue (School of Material Sci. and Engineering, Zhengzhou Univ., Henan 450002, CHN) ,  WANG Xinchao (School of Material Sci. and Engineering, Zhengzhou Univ., Henan 450002, CHN) ,  LI Haimei (School of Material Sci. and Engineering, Zhengzhou Univ., Henan 450002, CHN) ,  TURNG Lih-Sheng (Wisconsin Inst. for Discovery, Univ. of Wisconsin-Madison, Madison, WI 53705, USA) ,  TURNG Lih-Sheng (Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Wisconsin-Madison, Madison, WI 53706, USA)
資料名： Journal of Food Engineering  (Journal of Food Engineering)
巻： 154  ページ： 25-29  発行年： 2015年06月 
JST資料番号： C0838B  ISSN： 0260-8774  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スプレッド食品の1つであるヌテラの誘電体物質としての誘電歪としての特性を食品レオロジーとの関連性から検討した。2種類の異なる平面静電容量センサを用いて一時的ストレス-誘電係数を得た。この結果,小さな変形において比誘電率の変化とストレスとの間に直線関係が存在することが明らかになった。重合体と同様に食品の多くは誘電体物質であり,変形による誘電特性の変化が予測できる。本報告は食品の誘電歪作用を検討した第一報である。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *スプレッド ,  *誘電転移 ,  格子歪 ,  *食品レオロジー ,  工程管理 ,  食品加工
準シソーラス用語： *ヌテラ ,  *誘電歪

分類 (3件)： 食品の品質  (FJ01040F) ,  野菜とその加工品  (FJ11020O) ,  誘電体一般  (BM05010F)

タイトルに関連する用語 (2件)： ストレス ,  誘電性