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J-GLOBAL ID:201502250799977082   整理番号:15A0431617

原子厚さのプラズモン的ナノ共振器を使用した2D単層半導体における形態変化の監視

Monitoring Morphological Changes in 2D Monolayer Semiconductors Using Atom-Thick Plasmonic Nanocavities
著者 (11件):
資料名:
巻:号:ページ: 825-830  発行年: 2015年01月 
JST資料番号: W2326A  ISSN: 1936-0851  CODEN: ANCAC3  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本稿では,プラズモン結合した単一金ナノ粒子と金表面との間のナノメートルサイズ間隙を用いた間隙内材料のナノスケール量の動的な研究について報告した。電子線蒸着により,70nm厚さの金膜をSiウエハ上に堆積し,2硫化モリブデンまたはセレン化カドミウムのいずれかの単層を積層して,単一金ナノ粒子と金表面を分離した金属-絶縁体-金属(MIM)を構成した。分光分析は,CCDに接続した暗視野の構成で,冷却した分光器に接続した共焦点ファイバー集光配置を使用して顕微鏡上で行った。著者等は,数百の原子を含む光熱及び光化学反応が,単一プラズモン接合における光散乱を使用してリアルタイムで追跡できることを示した。また,確立したMIMモデルが,光回路に対して高い関連性のある1nm未満の極端な閉じ込めに対してさえ適用可能であることを示した。
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
光学的測定とその装置一般  ,  固体プラズマ 

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