文献

J-GLOBAL ID：201502253504921969   整理番号：15A0609365

FIB-SEMスライス断片化トモグラフィーによって観察した微細な析出物で修飾された転位

Decorated Dislocations with Fine Precipitates Observed by FIB-SEM Slice-sectioning Tomography

著者 (7件)： KAWANO Rika (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyushu Univ.) ,  KANEKO Kenji (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyushu Univ.) ,  HARA Toru (Surface Physics and Structure Unit, Advanced Key Technologies Div., National Inst. for Materials Sci.) ,  YAMADA Kazuhiro (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyushu Univ.) ,  SATO Yukio (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyushu Univ.) ,  HIGASHIDA Kenji (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Graduate School of Engineering, Kyushu Univ.) ,  KIKUCHI Masao (Res. Center for Steel, Kyushu Univ.)
資料名： ISIJ International (Iron and Steel Institute of Japan)  (ISIJ International (Iron and Steel Institute of Japan))
巻： 55  号： 4  ページ： 858-862 (J-STAGE)  発行年： 2015年 
JST資料番号： F0100A  ISSN： 0915-1559  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Nb添加オーステナイト系ステンレス鋼中の粒内NbC析出物の分散挙動をナノ的キャラクタリゼーション,詳細には,FIB-SEMスライス断片化トモグラフィー,方位画像顕微鏡,エネルギー分散X線分光(EDS),制限視野電子回折パターン(SAEDP)および透過型電子顕微鏡観察(TEM)によって調べた。微細な粒内NbC析出物の不均質な分散を可視化し,特に,それらは{111}すべり面上に有り転位に付随することを見出した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *オーステナイト系ステンレス鋼 ,  ニオブ添加合金 ,  ニオブ化合物 ,  *炭化物 ,  *析出 ,  分散【dispersion】 ,  *転位【結晶】 ,  滑り面 ,  集束イオンビーム ,  トモグラフィー ,  走査電子顕微鏡
準シソーラス用語： 修飾【化学】 ,  炭化ニオブ

分類 (2件)： 金属の格子欠陥  (BK12030F) ,  組織的硬化現象  (WB01020C)

引用文献 (32件)：

• 1) Y. Han, J. Shi, L. Xu, W. Cao and H. Dong: Mater. Sci. Eng. A, 530 (2011), 643.
• 2) P. Manohar, M. Ferry and T. Chandra: ISIJ Int., 38 (1998), 913.
• 3) D. A. Porter and K. E. Easterling: Phase Transformation in Metals and Alloys, Chapman and Hall, London, (1992).
• 4) Z. F. Ni, Y. S. Sun, F. Xue, J. Zhou and J. Bai: Mater. Sci. Eng. A, 528 (2011), 5664.
• 5) M. Razavi, M. R. Rahimipour and A. H. Rajabi-Zamani: Mater. Sci. Eng. A, 454 (2007), 144.

タイトルに関連する用語 (7件)： FIB-SEM ,  スライス ,  トモグラフィー ,  観察 ,  析出物 ,  修飾 ,  転位