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J-GLOBAL ID：201502255140936046   整理番号：15A0532988

パワーサイクル試験における酸化銀ペーストを用いて得た焼結銀層の信頼性

Reliability of sintered silver layer obtained using silver-oxide paste in power cycling test

著者 (4件)： YASUDA Yusuke (Hitachi, Ltd., Ibaraki, JPN) ,  TOKOO Naoya (Hitachi, Ltd., Ibaraki, JPN) ,  MORITA Toshiaki (Hitachi, Ltd., Ibaraki, JPN) ,  SUZUKI Kazuhiro (Hitachi, Ltd., Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 54  号： 1  ページ： 010302.1-010302.3  発行年： 2015年01月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 酸化銀ペーストを用いて得た焼結銀結合層の信頼性を調べるために,パワーサイクル試験を行った。酸化銀ペーストを用いて得たモジュールはT_jmax=150°C(ΔT_j=120°C)の試験で73400パワーサイクルを達成し,半田付(Pb_3.5Sn_1.5Ag)パワーモジュールは24600サイクルで故障した。サイクル試験後,Pb_3.5Sn_1.5Ag半田層に亀裂を観察したが,焼結銀層では観察されなかった。これらの結果は酸化銀ペーストを用いて得た焼結銀層がパワーモジュールの寿命を三倍に延ばし得ることを明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 酸化銀 ,  ペースト ,  *薄膜 ,  焼結 ,  信頼性 ,  *サイクル ,  繰返し試験 ,  寿命試験 ,  *信頼性試験 ,  ケイ素
準シソーラス用語： サイクル試験 ,  *パワーサイクル ,  *銀薄膜

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

引用文献 (15件)：

• P. G. Neudeck, R. S. Okojie, and Y. Chen, Proc. IEEE 90, 1065 (2002).
• J. A. Cooper and A. Agarwal, Proc. IEEE 90, 956 (2002).
• J. G. Bai and G. Q. Lu, IEEE Trans. Device Mater. Reliab. 6, 436 (2006).
• T. Morita, Y. Yasuda, E. Ide, and A. Hirose, Mater. Trans. 49, 2875 (2008).
• Y. Yasuda, T. Morita, and H. Kawaji, Jpn. J. Appl. Phys. 51, 025001 (2012).

タイトルに関連する用語 (6件)： パワー ,  サイクル試験 ,  酸化銀 ,  ペースト ,  焼結 ,  銀