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J-GLOBAL ID：201502258397740214   整理番号：15A0475803

オペランド条件下の観測に向けた軟X線領域における蛍光XAFS測定装置

A fluorescence XAFS measurement instrument in the soft x-ray region toward observation under operando conditions

著者 (4件)： HONDA M. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...) ,  BABA Y. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...) ,  SHIMOYAMA I. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...) ,  SEKIGUCHI T. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 86  号： 3  ページ： 035103-035103-5  発行年： 2015年03月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線吸収微細構造(XAFS)測定は電子構造の分析に幅広く使われている。一般に,軟X線領域のXAFSは真空下で測定されるが,真空下の化学構造は,化学種がそれらの機能を発揮するオペランド条件下のものとは通常異なる。ここでは,軟X線領域のシンクロトロン放射を使ってXAFS測定を行う,オペランド蛍光に向けたステップとしてXAFS測定装置を開発した。この方法を適用して,様々なpH溶液中のL-システインの硫黄原子の局所電子構造を分析した。pH 7の水中で,水素原子はL-システインのチオール(-SH)基から解離せず,水分子に囲まれ,それと相互作用する構造を形成する。pHを変化して,溶液中のL-システインのXAFSスペクトルは変更した。pH 9で水素原子は解離し,チオレートアニオンが形成された。L-システインが金属表面上に吸着し,乾燥しているとき,-SH基はSO₄^2-へ酸化するが,溶液中では酸化は観測されなかった。これは,水分子が稠密に充填され,-SH基を酸化から保護しているためである。著者らの結果は,この軟X線領域のオペランド蛍光XAFS測定に向けた装置は,空気中と溶液中の有機分子中の硫黄原子の構造分析に有用であることを示す。この装置は,リンやアルカリ金属(カリウムとセシウム)など軟X線領域に吸収端がある元素を含む物質の構造解析に適用されるであろう。また,これは真空中で扱うのが難しい試料や溶液中で特殊な機能を持つ物質の分析にも特に有用であろう。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *XAFS ,  *蛍光X線分析 ,  メルカプト基 ,  シンクロトロン放射 ,  水素イオン濃度 ,  硫黄 ,  チオラート ,  吸収端 ,  脂肪族アミン ,  チオール ,  脂肪族カルボン酸 ,  含硫アミノ酸 ,  第一アミン
準シソーラス用語： チオール基 ,  チオレート

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  その他の構造決定法  (BK01070L)

物質索引 (1件)： L-システイン

タイトルに関連する用語 (6件)： オペランド ,  観測 ,  軟X線 ,  蛍光 ,  XAFS ,  測定装置