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J-GLOBAL ID：201502258540489196   整理番号：15A0452562

電解質薄膜下での金属の腐食速度の測定法

A Method for Determining the Corrosion Rate of a Metal under a Thin Electrolyte Film

著者 (3件)： SHI Yanzhuo (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  TADA Eiji (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  NISHIKATA Atsushi (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Journal of the Electrochemical Society  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 162  号： 4  ページ： C135-C139  発行年： 2015年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 1945-7111  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿では,電解質薄膜下のEIS挙動を詳細に分析して,不均一電流分布下でも電荷移動抵抗(腐食電流)を測定する新規な方法を提示した。NaClまたはNaNO₃溶液を,電解質膜として用いた。EISは,TML(伝送線)等価回路により首尾よく曲線にフィットした。TML等価回路におけるパラメータを正確に測定する方法を提示した。この方法を5~25μmの極薄電解質膜下での炭素鋼の腐食に適用した。厚さが約20μmのときに,腐食速度は,最大(i₂=1mA/cm²)であることを見出した。

シソーラス用語： 電解質 ,  膜 ,  金属 ,  *腐食速度 ,  エポキシ樹脂 ,  *炭素鋼 ,  スペクトロスコピー ,  電荷移動 ,  腐食電流 ,  伝送線路 ,  モデル
準シソーラス用語： EIS【分光法】 ,  伝送線 ,  *電解質膜 ,  等価回路モデル

分類 (2件)： 腐食  (WB03030B) ,  電気化学反応  (CB07050F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電解質 ,  薄膜 ,  腐食速度 ,  測定法