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J-GLOBAL ID：201502264950810463   整理番号：15A0491366

飛行時間質量分析のパルスラジオ波グロー放電時間による非晶質シリコン薄膜太陽電池の深さプロフィル分析

Depth Profile Analysis of Amorphous Silicon Thin Film Solar Cells by Pulsed Radiofrequency Glow Discharge Time of Flight Mass Spectrometry

著者 (6件)： ALVAREZ-TORAL Aitor (Univ. Oviedo, Oviedo, ESP) ,  SANCHEZ Pascal (Energy Area (EN) - ITMA Materials Technol. (ITMA Foundation), Aviles, ESP) ,  MENENDEZ Armando (Energy Area (EN) - ITMA Materials Technol. (ITMA Foundation), Aviles, ESP) ,  PEREIRO Rosario (Univ. Oviedo, Oviedo, ESP) ,  SANZ-MEDEL Alfredo (Univ. Oviedo, Oviedo, ESP) ,  FERNANDEZ Beatriz (Univ. Oviedo, Oviedo, ESP)
資料名： Journal of the American Society for Mass Spectrometry  (Journal of the American Society for Mass Spectrometry)
巻： 26  号： 2  ページ： 305-314  発行年： 2015年02月 
JST資料番号： W0174A  ISSN： 1044-0305  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *太陽電池 ,  *半導体薄膜 ,  *アモルファスシリコン ,  深さプロフィル ,  *深さ分析 ,  *レーザ脱離質量分析 ,  表面分析 ,  マトリックス効果 ,  キャリブレーション ,  定量分析
準シソーラス用語： *アモルファスシリコン薄膜太陽電池 ,  グロー放電質量分析 ,  薄膜太陽電池 ,  *飛行時間質量分析

分類 (2件)： 無機物質の物理分析一般  (CC03021Q) ,  太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (8件)： 飛行時間質量分析 ,  パルス ,  ラジオ波 ,  グロー放電 ,  非晶質シリコン ,  薄膜太陽電池 ,  深さプロフィル ,  分析