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J-GLOBAL ID:201502270755903287   整理番号:15A0483060

マイケルソン干渉計を用いた電子バンチ形状診断

著者 (7件):
資料名:
巻: 2015  ページ: ROMBUNNO.M08  発行年: 2015年03月05日 
JST資料番号: G0939B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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阪大産研では,電子ビームが媒質間の境界面で放射するコヒーレント遷移放射(CTR)を,マイケルソン干渉計を用いて計測することにより,超短パルス電子ビームのパルス幅測定を実施してきた。本研究では,CTRの周波数スペクトルから電子バンチ形状の再構成により,軸方向に非対称な分布を持つ電子ビームの診断を検討した。(著者抄録)
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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干渉測定と干渉計  ,  電子ビーム,イオンビーム 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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