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J-GLOBAL ID:201502271037817930   整理番号:15A0418848

シリコン基板上のゲルマニウム-on-絶縁体モノリシック集積のためのゲルマニウムの横方向被覆成長

Lateral overgrowth of germanium for monolithic integration of germanium-on-insulator on silicon
著者 (10件):
資料名:
巻: 416  ページ: 21-27  発行年: 2015年04月15日 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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局所的にゲルマニウム-on-絶縁体をシリコン(Si)プラットホーム上に成長する技術を調査した。(001)Siウエハ上に,二酸化珪素(SiO2)を熱成長し,ゲルマニウム(Ge)のための成長ウィンドウを開口した。成長マスクとしてSiO2を使用して,結晶Geを選択ヘテロエピタクシ法で成長した。Ge結晶の横方向被覆成長はSiO2の表面を覆い,隣接しているGe結晶はお互いと合体する。したがって,GOI応用のための絶縁体上単結晶Geが形成された。GOIの表面を平坦化するために,化学機械研摩(CMP)を行った。透過型電子顕微鏡検査(TEM)分析,ラマン分光法,および時間分解光ルミネセンス(TRPL)は,高品質の結晶GeがSiO2に成長したことを示した。金属-半導体-金属(MSM)光検出器の光応答は,850nmと1550nmの波長に良い光吸収を示した。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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半導体の結晶成長  ,  赤外・遠赤外領域の測光と光検出器 
タイトルに関連する用語 (5件):
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