文献

J-GLOBAL ID：201502273679537003   整理番号：15A0501311

薄膜電池の酸化物電解質/電極における無視できる「負の空間電荷層効果」

Negligible “Negative Space-Charge Layer Effects” at Oxide-Electrolyte/Electrode Interfaces of Thin-Film Batteries

著者 (9件)： HARUTA Masakazu (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  HARUTA Masakazu (Doshisha Univ., Kyoto, JPN) ,  SHIRAKI Susumu (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SUZUKI Tohru (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KUMATANI Akichika (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  OHSAWA Takeo (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TAKAGI Yoshitaka (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SHIMIZU Ryota (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  HITOSUGI Taro (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Nano Letters  (Nano Letters)
巻： 15  号： 3  ページ： 1498-1502  発行年： 2015年03月 
JST資料番号： W1332A  ISSN： 1530-6984  CODEN： NALEFD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 全固体リチウム電池の電解質/電極の界面抵抗を8.6Ωcm²まで低減できることを示した。この値は報告されている全固体電池の値に比し一桁以上低く,液相電解質電池における値より低い。アルミナ(0001)基板上の金コレクタ膜に,LiCoO₂(カソード),Li₃PO_4-xN_x(電解質)及びLi(アノード)をパルスレーザ堆積,N₂存在下のRFマグネトロンスパッタリング,及び熱蒸着により積層し,LiPO_4-xN_xの成膜におけるスパッタリング条件を検討し,電気化学インピーダンス分光と界面抵抗の温度依存性により検証した。軸外しスパッタリングによる膜ダメージの低減が低い界面抵抗の鍵であり,またすべての作製過程の高真空中での実施が電解質/電極界面の汚染を防ぐのに有効であった。結果はLiPO_4-xN_x/LiCoO₂界面における負の空間電荷層効果が無視できることを示している。

シソーラス用語： *リチウム電池 ,  *固体 ,  コバルト酸塩 ,  リチウム化合物 ,  リン酸塩 ,  ドーピング ,  パルスレーザ蒸着 ,  スパッタ蒸着 ,  マグネトロンスパッタリング ,  空乏層 ,  固体電解質 ,  *抵抗 ,  *薄膜 ,  窒化物 ,  コバルト酸リチウム ,  全固体 ,  *電極界面抵抗 ,  窒素ドーピング
準シソーラス用語： RFマグネトロンスパッタリング ,  *界面抵抗 ,  空間電荷層 ,  窒素ドープ

分類 (1件)： 二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 薄膜電池 ,  酸化物 ,  電解質 ,  空間電荷層