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J-GLOBAL ID：201502276008740300   整理番号：15A0736862

リアルタイムアプリケーションのための活性化によるFPGAの冗長構成

Redundant Configuration on FPGA with Rejuvenation for Real Time Applications

著者 (2件)： SAYSANASONGKHAM Aromhack (Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN) ,  FUKUMOTO Satoshi (Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 115  号： 7(CPSY2015 1-15)  ページ： 1-6  発行年： 2015年04月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SRAMベースのFPGAは高エネルギー粒子又は放射により誘導されたSEUに敏感である。SEUはシステム出力を破壊でき,FPGAの機能を修正できる。本稿では,リアルタイムアプリケーションのためにFPGAに的を絞り,SEUを操作するための二重化FPGAアーキテクチャについて反応性活性化法を提案した。二重検査はエラー検出に役立ち,ロールバックと再計算はエラー検出時に実行される。エラーが残った場合は,活性化が始動し,活性化の後,FPGAが正常であることを確実にする。提案アーキテクチャは2つの独立なFPGAで構成される。一つが活性化プロセスを実行しなければならない時でも,他はシステム実行が可能である。これはアプリケーションのリアルタイム計算の制約を保証する。提案アーキテクチャではシステムの信頼性と回復力の改善が期待できる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *応用プログラム ,  *活性化 ,  *FPGA ,  *冗長システム ,  *構成 ,  SRAM ,  荷電粒子 ,  放射 ,  SEU【シングルイベント】 ,  多重化 ,  システムアーキテクチャ ,  誤り検出 ,  障害回復
準シソーラス用語： エネルギー放射 ,  *リアルタイムアプリケーション ,  ロールバック ,  二重化 ,  高エネルギー粒子

分類 (1件)： 汎用演算制御装置  (JC04020N)

引用文献 (31件)：

• E. Stott, P. Sedcole and P. Y. K. Cheung, "Fault tolerance and reliability in field-programmable gate arrays," IET Comput. Digit. Tech., vol. 4, no. 3, pp. 196 - 210, 2010.
• S. Garg, A. van Moorsel, K. Vaidyanathan and K. S. Trivedi, "A methodology for detection and estimation of software aging," in the Proc. of Ninth Int'l Symp. on Software Reliability Engineering, pp. 282 - 292, 1998.
• Y. Huang, C. Kintala, N. Kolettis and N. Fulton, "Software Rejuvenation: analysis, module and applications," in the Proc. of 25th IEEE Int'l Symp. on Fault Tolerance Computing, pp. 381 - 390, 1995.
• S. Garg, A. Puliafito, M. Telek and K. Trivedi, "Analysis of Preventive Maintenance in Transactions Based Software Systems," IEEE Trans. Computers, Vol. 47, No. 1, pp. 96 - 107, 1998.
• M. Grottke, A. Nikora and K. S. Trivedi, "Analysis of software aging in a web server," IEEE Transactions on Reliability, Vol.55, no. 3, pp. 411 - 420, 2006.

タイトルに関連する用語 (4件)： リアルタイムアプリケーション ,  活性化 ,  FPGA ,  冗長構成