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J-GLOBAL ID：201502280235077851   整理番号：15A0247248

歯科インプラント材の表面上の室内普遍汚染物の検出のためのFourier変換分光イメージング顕微鏡法(FT-SIM)および走査型ラマン顕微鏡法

Fourier transform spectral imaging microscopy (FT-SIM) and scanning Raman microscopy for the detection of indoor common contaminants on the surface of dental implants

著者 (6件)： LUTIN Anna (Schulich department of chemistry, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR) ,  BULATOV Valery (Schulich department of chemistry, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR) ,  JADWAT Yusuf (Periodontology and Oral Medicine, School of Oral Health Sciences, Fac. of Health Sciences, Univ. of Limpopo, Medunsa ...) ,  WOOD Neil H. (Periodontology and Oral Medicine, School of Oral Health Sciences, Fac. of Health Sciences, Univ. of Limpopo, Medunsa ...) ,  FELLER Liviu (Periodontology and Oral Medicine, School of Oral Health Sciences, Fac. of Health Sciences, Univ. of Limpopo, Medunsa ...) ,  SCHECHTER Israel (Schulich department of chemistry, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
資料名： Talanta  (Talanta)
巻： 134  ページ： 514-523  発行年： 2015年03月01日 
JST資料番号： E0324A  ISSN： 0039-9140  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 骨内膜性歯科インプラントは歯群を完全な状態に再建するための高度の成功事例を持ち普遍的に実施されている。しかしながら,インプラント表面の未知物質による汚染時は骨結合が生じない可能性があり,歯科インプラントは機械的安定性の欠如により失敗する可能性があった。歯科インプラント表面の汚染物の検出および特性化は困難な作業であった。今回,歯科インプラント表面の空気伝達の汚染物を検出するための分光顕微鏡法の幾つかを検討した。その結果,FT-SIMおよび走査型ラマン顕微鏡法が最も有用な情報を与えてくれることを見出した。インプラントの幾つかは弱く均質な自発蛍光を持ち,およびFT-SIMを用いる時最高の分析結果を得ることができた。他方他のインプラントはラマン分光法に不活性であったが走査型ラマン顕微鏡法を用い分析することが可能であった。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *歯科インプラント材 ,  Fourier分光法 ,  スペクトル画像 ,  *顕微Raman分光法 ,  *汚染物質 ,  *蛍光測定 ,  蛍光スペクトル ,  炭酸カルシウム ,  滑石
準シソーラス用語： *蛍光イメージング

分類 (2件)： 無機化合物の物理分析  (CC03024P) ,  歯科材料  (GT06000B)

タイトルに関連する用語 (8件)： 歯科インプラント材 ,  室内 ,  汚染物 ,  Fourier変換分光 ,  イメージング ,  顕微鏡法 ,  走査型 ,  ラマン顕微鏡