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J-GLOBAL ID:201502281547004122   整理番号:15A0363395

電気化学的手法により作製したメゾスコピック三次元構造体の表面観察

著者 (3件):
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巻: 52  号:ページ: 2-5  発行年: 2015年02月20日 
JST資料番号: G0788A  ISSN: 1347-4774  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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Si微細加工による三次元構造体について,高分解能SEMを主に用いて表面観察した。針状構造体,ワイヤ状構造体,ロール状構造体の表面と断面を詳細に観察している。これらの構造体観察に用いた装置はSchottky型電子銃を搭載したFIB/FE-SEM(JIB-4601F;日本電子)とFE-SEM(JIB-710F)およびTEM(JEM-1400)である。立体的なメソスコピック構造体の観察には,使用する顕微鏡の観察原理や特徴,特性を充分に理解する必要がある。
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分類 (1件):
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顕微鏡法 
引用文献 (9件):
  • M. Motohashi, K. Shimizu, T. Suzuki, M. Niwa, Mater. Res. Express, 1, 045027 (2014)
  • S. Lv, Z. Li, J. Liao, Z. Zhang, W. Miao, J. Vac. Sci. Technol. B, 33, 02B101T (2015)
  • M. D. Korzec, M. Roczen, M. Schade, B. Wagner, B. Rech, J. Appl. Phys., 115, 074304 (2014)
  • H. Yano, J. Yasunaga, K. Shimizu, K. Konno, T. Suzuki, M. Niwa, M. Motohashi, Nano and Giga Challenges in Electronics, Photonics and Renewable Energy (NGC2014), Phoenix, No.60 (2014)
  • L. Liu, V. V. Kuryatkov, S. A. Nikishin, H. R. Harris, M. Holtz, J. Vac. Sci. Technol. B, 31, 021801 (2013)
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