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J-GLOBAL ID：201502284496623379   整理番号：15A0585862

有機トランジスタにおける多数回繰り返し曲げの効果

Effects of Bending until 10000 times on Organic Flexible Transistors

著者 (9件)： 酒井正俊 (千葉大 大学院工学研究科) ,  山口祥平 (千葉大 大学院工学研究科) ,  佐々木達彦 (千葉大 大学院工学研究科) ,  林潤郎 (千葉大 大学院工学研究科) ,  山内博 (千葉大 大学院工学研究科) ,  國吉繁一 (千葉大 大学院工学研究科) ,  工藤一浩 (千葉大 大学院工学研究科) ,  貞光雄一 (日本化薬) ,  品村祥司 (日本化薬)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 114  号： 516(OME2014 82-89)  ページ： 13-16  発行年： 2015年03月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 溶媒フリーな印刷プロセスとして,熱ラミネート法の開発を行った。ゲートおよびソース/ドレイン電極を配置した2枚のポリイミドフィルム基板の間にC₈-BTBT粉末を適量配置し,加熱・加圧することによって有機薄膜トランジスタを作製した。繰り返し曲げ試験機を作製して,10000回までの曲げ耐久試験を有機薄膜トランジスタに行った。繰り返し曲げによる影響はいくつかのタイプに分類することができるが,徐々に進行するゲートリークによりトランジスタの機能を喪失する場合においても,電界効果キャリア移動度はほとんど劣化しないことが示された。また,トランジスタ作製上の技術的な問題をいくつか解決することによって,曲率半径1mmの10000回曲げに対しても特性がほとんど劣化しないトランジスタを作製した。(著者抄録)

シソーラス用語： *FET【トランジスタ】 ,  *有機半導体 ,  曲げ ,  *曲げ強さ ,  耐荷力 ,  化学反応 ,  有機溶媒 ,  ポリイミド ,  *高分子薄膜 ,  *曲げ試験 ,  *繰返し試験 ,  耐久試験 ,  キャリア移動度 ,  電場効果 ,  半径 ,  フレキシブル基板
準シソーラス用語： 有機トランジスタ ,  曲げ耐力 ,  有機溶媒フリー ,  曲率半径

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

引用文献 (5件)：

• A. Inoue, T. Okamoto, M. Sakai, S. Kuniyoshi, H. Yamauchi, M. Nakamura, and K. Kudo, Physica Status Solidi A 210, 1353 (2013).
• M. Sakai, T. Okamoto, Y. Yamazaki, J. Hayashi, S. Yamaguchi, S. kuniyoshi, H. Yamauchi, Y. Sadamitsu, M. Hamada and K. Kudo, Physica Status Solidi RRL 7, 1093 (2013).
• T. Sekitani, S. Iba, Y. Kato, Y. Noguchi, T. Someya, and T. Sakurai, Appl. Phys. Lett. 87, 173502 (2005).
• H. Ebata, T. Izawa, E. Miyazaki, K. Takimiya, M. Ikeda, H. Kuwabara, and T. Yui, J. Am. Chem. Soc. 129, 15732 (2007).
• M. Sakai, Y. Yamazaki, S. Yamaguchi, J. Hayashi, and K. Kudo, Physica Status Solidi A 211, 795 (2014).

タイトルに関連する用語 (2件)： 有機トランジスタ ,  曲げ