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J-GLOBAL ID:201502285809997700   整理番号:15A0602701

LiNbO3膜の構造と特性に及ぼすスパッタリング条件の影響

Sputtering condition effect on structure and properties of LiNbO3 films
著者 (6件):
資料名:
巻: 26  号:ページ: 4250-4256  発行年: 2015年06月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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種々のスパッタリング条件で,高周波マグネトロンスッパタリング(RFMS)法及びイオンビームスパッタリング(IBS)法によって,多結晶LiNbO3膜を種々の基板上に成長させた。浸食ゾーン(プラズマ効果)内に位置する基板上に形成された膜は,凹凸構造を示した。プラズマ効果が重要でなくなった時,ランダムサイズ方位のLiNbO3膜が,結晶の大きさの増加に伴って,RFMSプロセスとIBSプロセス中に形成された。プラズマ効果の一部としての反応性ガス圧力は,膜の性質に大きな影響を持つ。ガス圧力が大幅に増加した時,粒径が半分に減少し,成長膜の平均表面粗さが倍増した。より高いガス圧では,Liが乏しい相のLiNb3O8が,成長プロセスの間に,LiNbO3と共に現れた。その結果,膜の凹凸構造が消失した。二軸(エピタキシャル)凹凸構造を持つ単相LiNbO3膜をイオン支援条件でRFMSプロセス中に(111)Agエピタキシャル膜上に形成する。Copyright 2015 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.
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固体デバイス製造技術一般 
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