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J-GLOBAL ID:201502287918890080   整理番号:15A0446968

CVD成長単層MoS2の個々のドメインにおける欠陥媒介輸送及び電子照射効果

Defect-mediated transport and electronic irradiation effect in individual domains of CVD-grown monolayer MoS2
著者 (6件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 02B110-02B110-7  発行年: 2015年03月 
JST資料番号: E0974A  ISSN: 2166-2746  CODEN: JVTBD9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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四探針走査型トンネル顕微鏡により,MoS2の原子的に薄い個々の結晶粒の電気輸送特性を研究した。単層MoS2ドメインを,SiO2/Si基板上に化学蒸着により合成した。コンダクタンス及び移動度に関する温度依存測定は,輸送が,非常に低いキャリア密度及び移動度の電子電荷トラッピング及び熱放出過程により支配されていることを示した。電子照射の効果を,超高真空環境での走査電子顕微鏡において電子ビームに膜を曝すことにより調べた。照射プロセスが,材料の移動度及びキャリア密度に大きな影響を与え,コンダクタンスが,特異な時間依存緩和挙動を示すことが分かった。活性MoS2層及び誘電体層が電荷トラッピングサイトを生成し,多重トラッピング及び熱放出過程が輸送及び移動度特性を決定することを示唆した。電子ビーム照射は,欠陥の形成を促進し,MoS2の電気的特性に影響を与えた。本研究は,MoS2の原子層の電子的特性における欠陥の重要な役割及び電子ビーム照射効果を明らかにした。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体の放射線による構造と物性の変化  ,  半導体結晶の電気伝導  ,  半導体薄膜 

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