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J-GLOBAL ID：201502292806910252   整理番号：15A0418003

ToF-SIMSデータの隠された情報の種々の多変量解析を利用する抽出

Extraction of hidden information of ToF-SIMS data using different multivariate analyses

著者 (5件)： YOKOYAMA Yuta (Dep. of Materials and Life Sci., Seikei Univ., 3-3-1, Kichijoji-Kitamachi, Musashino, Tokyo, 180-8633, JPN) ,  KAWASHIMA Tomoko ,  OHKAWA Mayumi ,  IWAI Hideo ,  AOYAGI Satoka
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 47  号： 4  ページ： 439-446  発行年： 2015年04月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 飛行時間型二次イオン質量分析(ToF-SIMS)は,ポリマーや生体材料の複雑な系の表面についての情報を決定するための強力な手段である。しかし,ToF-SIMSの生データの解釈は,困難であることが多い。多変量解析が,ToF-SIMSデータの解釈のための有効な手段になった。主成分分析と多変量スペクトル分解法などのいくつかの多変量解析法が,多くの成分からなるToF-SIMSデータの単純化に有用であり,より少ない数の成分によって説明される。本研究で,3つのポリマーの4層のToF-SIMSのデータをこれらの解析法を利用して解析した。それぞれの方法を利用して獲得された情報をポリマーの空間的な分布と同定の点から比べた。また,表面の汚染の影響を調べるために,Arクラスター型イオンビームスパッタリングの前後のToF-SIMSのデータを比べた。結果的に,未知汚染物を含めた多重成分の試料中の材料が識別された。Copyright 2015 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *多変量解析 ,  *抽出 ,  イオンビームスパッタリング ,  汚染 ,  主成分分析 ,  クラスタ ,  アルゴン ,  データ解析 ,  ポリエチレンテレフタレート ,  ポリスチレン ,  ポリカーボネート
準シソーラス用語： TOF-SIMS ,  表面汚染

分類 (2件)： 質量分析  (CC03013N) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (2件)： TOF-SIMS ,  多変量解析