文献

J-GLOBAL ID：201502299184897495   整理番号：15A0350792

新しい表面元素分析法の開発 X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)

Development of a Novel Surface Elemental Analysis Methodology: X-ray-Aided Noncontact Atomic Force Microscopy (XANAM)

著者 (1件)： SUZUKI Shushi (Dep. of Crystalline Materials Sci., Graduate School of Engineering, Nagoya Univ.)
資料名： Bulletin of the Chemical Society of Japan  (Bulletin of the Chemical Society of Japan)
巻： 88  号： 2  ページ： 240-250 (J-STAGE)  発行年： 2015年 
JST資料番号： G0450A  ISSN： 0009-2673  CODEN： BCSJA8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査プローブ顕微鏡法(SPM)は,基板表面上の構造の解析に対して広く利用されている。特に,走査トンネル顕微鏡法(STM)および非接触型原子間力顕微鏡法(NC-AFM)は,固体表面について,原子レベルでの高空間分解能で,実空間観察を可能にした。しかし,これらの微視的測定法は,なお,一般目的に対するナノスケールでの元素分析における困難を含む。尤も,明瞭な場合については,幾つかの確証された解が既に提示されている。本短報(概説)では,この問題およびその解を,個々の分子のスペクトロスコピーに対する非弾性トンネル分光法(IETS)-STM,表面構造の元素分析に対するシンクロトロン放射X線源と組合わせたSTM,原子追跡技法7を用いた力分光法,ならびにX線支援非接触原子間力顕微鏡法(XANAM)などのSTM/NC-AFMに基づいた化学分析法の開発に関連するトピックスを説明した。特に,この概説は,力分光法のX線エネルギー依存性について,最近得た結果およびそのXANAMイメージングとしての二次元記録を含めて,XANAMに関する詳細を記し,XANAMが,種々の目的に対して,化学分析のナノスケール研究に大きい寄与をする可能性を有することを示唆した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *元素分析 ,  *表面分析 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  トンネル分光法 ,  表面構造 ,  光電子分光法 ,  化学分析 ,  規模 ,  ナノ構造 ,  分子 ,  空間 ,  *顕微鏡観察 ,  X線吸収スペクトル ,  X線照射 ,  空間分解能 ,  高分解能 ,  シンクロトロン放射光電子分光法 ,  ナノスケール ,  非弾性電子トンネル分光法 ,  実空間 ,  NC-AFM ,  構造
準シソーラス用語： 非接触型原子間力顕微鏡 ,  力分光法

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (127件)：

• 1) R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994. doi:10.1017/CBO9780511524356.
• 2) S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyer, Noncontact Atomic Force Microscopy, Springer, Berlin, Heidelberg, 2002.
• 3) S. Morita, F. J. Giessibl, R. Wiesendanger, Noncontact Atomic Force Microscopy, Springer, Berlin, Heidelberg, 2009, Vol. 2. doi:10.1007/978-3-642-01495-6.
• 4) D. Bonnell, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications, Wiley-VCH, New York, 2000.
• 5) S. Morita, Roadmap of Scanning Probe Microscopy, Springer, Berlin, Heidelberg, 2006. doi:10.1007/978-3-540-34315-8.

タイトルに関連する用語 (5件)： 元素分析 ,  開発 ,  X線 ,  支援 ,  非接触原子間力顕微鏡