特許
J-GLOBAL ID：201503004297978623
分光装置および分光法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-538570
公開番号（公開出願番号）：特表2015-532977
出願日： 2013年10月24日
公開日（公表日）： 2015年11月16日
要約：
本発明はスペクトルデータのバックグラウンド放射を推定する方法に関する。この方法は、反復して、スプライン曲線などの分析曲線を基準データにフィッティングさせるステップと、分析曲線からの基準データの許容偏差を決定するステップと、分析曲線からの許容偏差を超える基準データまたはスペクトルデータのデータ点をクリップして、終了基準が満たされるまで次の反復に基準データを供給するステップとを含むことができる。基準データは、最初、スペクトルデータに基づく。この方法は、スペクトルデータのバックグラウンド放射の推定値を発生させるステップであり、各推定値が、異なる次数の多項式をスペクトルデータにフィッティングさせることに基く、ステップと、バックグラウンド放射を推定するために使用する多項式の次数、および/またはバックグラウンド放射の推定値のうちの1つを、異なる次数の多項式のフィッティングに適用されるフィッティング基準に基づいて選択するステップとを含むことができる。この方法は、基準データからスペクトルデータのノイズを推定するステップをさらに含むことができる。
請求項（抜粋）：
スペクトルデータのバックグラウンド放射を推定する方法であって、前記方法は、反復して、スプライン曲線を基準データにフィッティングさせるステップと、前記スプライン曲線からの前記基準データの許容偏差を決定するステップと、前記スプライン曲線からの前記許容偏差を超える前記基準データまたは前記スペクトルデータのデータ点をクリップして、終了基準が満たされるまで次の反復に前記基準データを供給するステップとを含み、前記基準データが、最初、前記スペクトルデータに基づくことを特徴とする方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G043AA01
, 2G043EA01
, 2G043EA03
, 2G043GB21
, 2G043MA01
, 2G043NA01
, 2G043NA05
, 2G043NA06
出願人引用 (1件)
-
ベースライン補正方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-238565
出願人：日本分光株式会社
審査官引用 (1件)
-
ベースライン補正方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-238565
出願人：日本分光株式会社
引用文献：
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