特許
J-GLOBAL ID:201503004688946202

眼科測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-248477
公開番号(公開出願番号):特開2015-104555
出願日: 2013年11月29日
公開日(公表日): 2015年06月08日
要約:
【課題】より良好な角膜厚の測定値を得ることのできる眼科測定値を提供する。【解決手段】眼科測定装置1は、被検眼Eに対して斜め方向から測定光を投光する投光光学系80aと、測定光が被検眼Eの角膜前面で反射されることによって形成される第1反射像と、測定光が被検眼の角膜後面で反射されることによって形成される第2角膜反射像を二次元受光素子87にて受光する受光光学系80bと、を備える。また、眼科測定装置1の制御部は、二次元受光素子87から出力された受光信号における第1反射像と第2反射像の位置情報に基づいて被検眼の角膜厚を得る。このとき、制御部は、第1反射像と第2反射像の少なくともいずれかの位置情報を二次元的に検出し、二次元的に検出された位置情報を用いて角膜厚を得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被検眼に対して斜め方向から測定光を投光する投光光学系と、 前記測定光が前記被検眼の角膜前面で反射されることによって形成される第1角膜反射像と、前記測定光が前記被検眼の角膜後面で反射されることによって形成される第2角膜反射像を二次元受光素子にて受光する受光光学系と、 前記二次元受光素子から出力された受光信号における前記第1角膜反射像と前記第2角膜反射像の位置情報に基づいて被検眼の角膜厚を得る演算処理手段と、 を備え、 前記演算処理手段は、 前記第1角膜反射像と前記第2角膜反射像の少なくともいずれかの位置情報を二次元的に検出し、二次元的に検出された位置情報を用いて角膜厚を得ることを特徴とする眼科測定装置。
IPC (1件):
A61B 3/10
FI (1件):
A61B3/10 Z
引用特許:
審査官引用 (8件)
  • 眼科装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-056884   出願人:株式会社ニデック
  • 眼科装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2006-182844   出願人:株式会社ニデック
  • 角膜厚測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2011-005931   出願人:株式会社ニデック
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