特許

J-GLOBAL ID：201503007183523633

低サイクル疲労き裂進展評価方法

発明者： 釜谷 昌幸 ,  川久保 政洋 ,  山東 正太郎
出願人/特許権者： 株式会社原子力安全システム研究所 ,  株式会社神戸工業試験場
代理人 (2件)： 杉本 丈夫 ,  谷田 龍一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-253763
公開番号（公開出願番号）：特開2014-102132
特許番号：特許第5760244号
出願日： 2012年11月19日
公開日（公表日）： 2014年06月05日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 低サイクル疲労によるき裂進展を評価する方法であって、 両端に挟持部、両端間にひずみ測定用の平行部、該平行部の一辺にクリップゲージを引掛ける一対のエッジを備えた切欠き、及び該切欠きの両エッジ間から延びる予き裂を有する平板状の試験片の前記両端の挟持部を挟持して該試験片に圧縮荷重と引張荷重の繰り返し荷重を負荷するステップと、 前記繰り返し荷重の負荷による前記予き裂のき裂開口量を、前記切欠きのエッジに引掛けたクリップゲージにより測定し、該き裂開口量と前記繰り返し荷重との関係を求めるステップと、 前記繰り返し荷重の負荷による前記試験片の平行部のひずみを測定し、該ひずみと前記繰り返し荷重との関係を求めるステップと、 前記き裂開口量と前記繰り返し荷重との前記関係から、前記繰り返し荷重による負荷荷重の1サイクル中にき裂が開口し始める開口開始点を求めるステップと、 求められた前記き裂の開口開始点を用い、負荷荷重の1サイクル中にき裂が開口している間におけるひずみの変動幅に対応する有効ひずみ範囲を求めるステップと、 前記有効ひずみ範囲を用いて有効ひずみ拡大係数範囲を求め、該有効ひずみ拡大係数範囲を用いてき裂進展速度を求めるステップと、 を含むことを特徴とする低サイクル疲労き裂進展評価方法。

IPC (1件)：

G01N 3/32 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01N 3/32 C

引用特許：

出願人引用 (4件)

• ひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-087548   出願人：核燃料サイクル開発機構, 株式会社島津製作所
• J1C試験における試験片の荷重負荷制御方法及びJ1C試験システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-318107   出願人：株式会社鷺宮製作所
• 疲労き裂進展試験のための材料試験機制御方法及び材料試験機制御装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-223406   出願人：株式会社鷺宮製作所
• 機器寿命評価方法および機器寿命評価システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-160305   出願人：株式会社東芝, 東芝アイテック株式会社

引用文献：

出願人引用 (1件)

• き裂成長予測による低サイクル疲労の損傷評価(成長予測モデルの構築とその適用例)