特許
J-GLOBAL ID:201503009450722058

量子ドットを用いたガスバリア膜における欠陥の検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人 丸山国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-509515
特許番号:特許第5805349号
出願日: 2013年05月03日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ガスバリア膜における欠陥を明らかにする方法であって、 ガス状前駆体を用いて、膜の欠陥内で量子ドットを合成する工程と、 量子ドットによる光放出又は光吸収を検出する工程と、 を含む方法。
IPC (2件):
G01N 21/91 ( 200 6.01) ,  G01N 21/64 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 21/91 Z ,  G01N 21/64 E
引用特許:
審査官引用 (2件)
引用文献:
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