特許

J-GLOBAL ID：201503009995925711

距離測定装置、及び距離測定方法

発明者： 青戸 智浩
出願人/特許権者： 株式会社東京精密
代理人 (3件)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  細川 文広
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-020717
公開番号（公開出願番号）：特開2015-148488
出願日： 2014年02月05日
公開日（公表日）： 2015年08月20日
要約：

【課題】大気環境による誤差を低減することができる距離測定装置を提供すること。【解決手段】第1波長帯で波長が変化する第1光を射出する第1波長掃引光源と、第1波長帯とは異なる第2波長帯で波長が変化する第2光を射出する第2波長掃引光源と、第1光と第2光を照射する照射部と、照射部により照射された第1光であって、反射された第1光と、照射部により照射された第2光であって、反射された第2光を受光する受光部と、受光部により受光された第1光及び第2光に基づいて、照射部から反射が生じたところまでの距離を導出する制御部と、を備える距離測定装置である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1波長帯で波長が変化する第1光を射出する第1波長掃引光源と、 前記第1波長帯とは異なる第2波長帯で波長が変化する第2光を射出する第2波長掃引光源と、 前記第1光と前記第2光を照射する照射部と、 前記照射部により照射された前記第1光であって、反射された前記第1光と、前記照射部により照射された前記第2光であって、反射された前記第2光を受光する受光部と、 前記受光部により受光された前記第1光及び前記第2光に基づいて、前記照射部から前記反射が生じたところまでの距離を導出する制御部と、 を備える距離測定装置。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  G01N 21/45 ,  G01S 7/481 ,  G01B 9/02

FI (4件)：

G01B11/00 G ,  G01N21/45 A ,  G01S7/481 A ,  G01B9/02

Fターム (69件)：

2F064AA01 ,  2F064CC01 ,  2F064EE01 ,  2F064FF01 ,  2F064FF06 ,  2F064FF08 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG24 ,  2F064GG42 ,  2F064GG44 ,  2F064GG55 ,  2F064HH01 ,  2F064HH06 ,  2F064JJ15 ,  2F064KK01 ,  2F065AA06 ,  2F065CC16 ,  2F065CC19 ,  2F065CC31 ,  2F065DD04 ,  2F065FF52 ,  2F065FF61 ,  2F065GG06 ,  2F065GG23 ,  2F065GG25 ,  2F065HH04 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL22 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ29 ,  2G059AA03 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG06 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04 ,  2G059MM10 ,  5J084AA05 ,  5J084AB07 ,  5J084AB16 ,  5J084AD01 ,  5J084BA05 ,  5J084BA21 ,  5J084BA22 ,  5J084BA38 ,  5J084BA51 ,  5J084BB04 ,  5J084BB31 ,  5J084CA26 ,  5J084CA31 ,  5J084CA48 ,  5J084CA70 ,  5J084EA04

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 干渉測長器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-267411   出願人：松下電工株式会社