特許
J-GLOBAL ID：201503010795642240

眼科装置、解析プログラム、中間透光体混濁度取得方法、および蛍光強度取得方法

発明者：
上野登輝夫

上野登輝夫 について

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秋田純一

秋田純一 について

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水野勝保

水野勝保 について


出願人/特許権者：
株式会社ニデック

株式会社ニデック について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-093075
公開番号（公開出願番号）：特開2015-085176
出願日： 2014年04月28日
公開日（公表日）： 2015年05月07日
要約：
【課題】被検眼の中間透光体に生じる混濁の程度を求めることができる眼科装置および解析プログラムを提供すること。【解決手段】眼科装置1は、被検眼Eの眼底Erへ光を投光する投光光学系2と、投光光学系2からの光に伴う眼底Erからの光を受光素子25で受光する受光光学系3と、を有している。また、眼科装置1の制御部200は、眼底Erの各位置に対応する眼底Erからの光の強度を示す強度情報を受光素子25の受光結果に基づいて取得し、取得された強度情報に基づいて被検眼Erにおける中間透光体の混濁の程度を解析する。【選択図】図8
請求項（抜粋）：
被検眼の眼底の各位置へ光を投光する投光光学系と、 前記投光光学系からの光に伴い眼底の各位置から発せられる眼底からの光を受光素子で受光する受光光学系と、 眼底の各位置に対応する前記眼底からの光の強度を示す強度情報を、前記受光素子の受光結果に基づいて取得する取得手段と、を備える眼科装置において、 前記取得手段によって取得される強度情報に基づいて被検眼における中間透光体の混濁の程度を解析する解析手段を備えていることを特徴とする眼科装置。
IPC (1件)：
A61B 3/10
FI (1件)：
A61B3/10 R
引用特許：
審査官引用 (9件)
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