特許
J-GLOBAL ID：201503014493656524
TOFD法による超音波探傷方法と装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
堀田 実
, 野村 俊博
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-106640
公開番号（公開出願番号）：特開2013-234886
特許番号：特許第5829175号
出願日： 2012年05月08日
公開日（公表日）： 2013年11月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 送信探触子と受信探触子の間隔を一定に保持した状態で、送信探触子により試験体内部に超音波ビームを入射させ、前記受信探触子により前記超音波ビームの探傷波形を受信するTOFD法による超音波探傷方法であって、
前記送信探触子と前記受信探触子は、くさびと、その上に搭載されたフェーズドアレイ探触子とからなり、
試験体表面から深さ0.4mm以上、1mm未満の表層部のき裂測定に適用し、
前記送信探触子と前記受信探触子の間に前記き裂を位置決めし、
前記フェーズドアレイ探触子のセクタスキャンにより、入射する超音波ビームの方向を変化させて、前記送信探触子と前記受信探触子の超音波ビームの中心軸が交差する交軸点の試験体表面からの交軸点深さを順次変化させ、かつ前記受信探触子により複数の交軸点深さに対応する複数の探傷波形を受信し、
前記複数の探傷波形を重ね合わせて、該探傷波形のうち、伝搬時間が変化するラテラル波を弱め、伝搬時間の変わらない前記き裂からの回折波を強めて、前記き裂からの前記回折波と、前記送信探触子から前記受信探触子まで表層部を伝搬する前記ラテラル波を分離した合成波形を作成する、ことを特徴とするTOFD法による超音波探傷方法。
IPC (2件)：
G01N 29/04 ( 200 6.01)
, G01N 29/44 ( 200 6.01)
